RT RC-04分辨率测试卡

产品简介

RT RC-04分辨率测试卡（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

产品型号：

更新时间：2024-10-13

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仪器仪表

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详细介绍

品牌	其他品牌	产地类别	进口
应用领域	医疗卫生,环保,生物产业,航天

JIMA RT RC-04分辨率测试卡,RT RC-04测试卡详细介绍：

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA RT RC-04分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

图案布局：T型

线/空间尺寸：32种规格图案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,

JIMA RT RC-04分辨率测试卡

JIMA RT CT-01分辨率测试卡（于三维CT系统分辨率测试）

测试卡封装在一个防护盒中

图案布局：T型

线/空间尺寸：5种规格图案,

3μm,4μm,5μm,6μm,7μm

JIMA RT RC-02分辨率测试卡

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm

图案布局：L型

线/空间尺寸： 16种规格图案,

0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,

2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm

JIMA RT RC-02分辨率测试卡